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白光干涉儀，作為一種高精度的光學測量儀器，廣泛應用于科研、工業生產和質量檢測等多個領域。它基于光學干涉原理，能夠實現對物體表面微觀形貌的精確測量，具有測量精度高、操作便捷、功能齊全和測量參數涵蓋面廣的優點。白光干涉儀的結構主要包括照明光源系統、光學成像系統、垂直掃描控制系統、數據處理系統和應用軟件。照明光源系統通常采用高亮度LED光源，提供穩定、均勻的光源。光學成像系統則負責接收從樣品和參考鏡反射回來的光線，并形成清晰的圖像或干涉條紋。垂直掃描控制系統能夠精密驅動顯微物鏡上下...

分析任一顆粒顆粒度分析中經常需要就顆粒數目、尺寸及粒徑分布等對樣品數字圖像進行分析。在不同行業中，這些顆粒可能是金屬尾礦或是其它污染物，如液體中的微晶或氣孔或機器零件中的瑕疵或氣泡。這方面的分析需要具備精確測量、高分辨率、電動載物臺和圖像拼接，以及圖像分析軟件。殘留污垢顆粒度分析的一個重要應用便是殘余污垢的測定。許多行業都要求依據行業標準和規定，控制并記錄產品的清潔度。一個已加工好的零部件可能布滿灰塵，或殘留有各種污物。隨機抽選配件，用定量液體沖洗，然后通過濾膜加壓，所有灰塵...

增強型光學測量技術雖然一開始作為高性能3D光學輪廓儀設計，但是我們的某些系統勝過所*現有的光學輪廓儀，集所有技術于一身。條紋投影AI多焦面疊加共聚焦干涉光譜反射條紋投影非常適合大面積測量，垂直精度和可重復性高，系統噪聲低。了解更多產品陣容技術組合我們的系統采用不同光學測量技術進行工作，一部分系統采用組合技術。聚集這些技術的優點，外加*新技*和操作軟件，成就市場上*具競爭力的高級測量設備。為何使用四合一技術？采用Sensofar的四合一法–正如Sneox系統那樣–在軟件中單擊一...

我們熟知各類規范和標準許多金相學分析方法都是在特定的規范和標準下執行的，如對鋼中非金屬夾雜物（NMI）的測定或者晶粒度分析等。為依據國際標準來測定這些參數，您需要一臺金相顯微鏡或是配有專業軟件模塊的顯微鏡系統。鋼中非金屬夾雜物（NMI）含量是一個影響鋼鐵強度和韌性的重要因素，對其標準的測定需要在配有專業軟件模塊的顯微鏡系統下進行。如果您在鋼鐵工業工作或是生產鋼鐵產品（如汽車業或機械制造業），則需要一套能夠依照現行國際標準自動重復分析NMI含量的顯微系統。控制晶粒大小晶粒度分析...

西班牙SensofarSneox三維共聚焦白光干涉儀用于汽車發動機缸套的紋理幾何形狀評估激光加工可通過應用紋理來開發工程表面，可以產生增強的功能性能，如表面摩擦、觸感行為、潤濕性能等。使用皮秒和飛秒級的超短脈沖進行激光加工，可加工出具有高度精確的微觀幾何形狀、邊緣和表面的表面紋理。五軸激光加工能夠對具有復雜輪廓的三維組件進行無縫紋理處理。測量數據SensofarSneox3D光學輪廓儀已成為MTC表面紋理不可或*的一部分，發揮了重要作用。與汽車公司合作的實驗研究中，MTC開發...

背景條紋投影原理將結構光以一定角度投射到樣本上，用相機接收反射光。投射到某個表面上時，投射光型改變，因此，通過確定條紋圖形與高度變化之間的相互關系，我們就可獲得3D圖像。光學方案為了在現場樣本上獲得均勻、聚焦且等距的條紋投影，Scheimpflug配置與雙遠心鏡頭一起使用。不管物體在視場中的距離或位置如何，均有恒定的放大倍率，是測量用途的理想之選。主要特征正確單拍采集垂直精度高的大區域而且可重復性高(σ=0.01µm)，系統噪聲低至0.5µm實像顏色沒...

主動照明多焦面疊加是一種為了測量粗糙的表面形狀而開發的光學技術。這項技術基于Sensofar在共聚焦和干涉3D測量領域的廣泛專業知識，專門設計用于補充低放大率下的測量。BACKGROUND多焦面疊加原理主動照明多焦面疊加技術利用了明場中存在景深的特點，樣品只有在的特定z范圍中對焦。景深會根據物鏡的數值孔徑或光源波長而變化。Z高度的值是根據圖像的高對比度（清晰度或微小細節）來計算的，從而得出正確的對焦位置。光學技術我們的光學技術是通過專*的microdisplay來實現，光線會...

Sensofar共聚焦白光干涉儀|共聚焦技術共聚焦技術能夠測量表面高度，將常規圖像轉換成光學剖面，其中，物鏡焦深范圍內的那些區域的信號被保留，改善了圖像對比度、橫向分辨率和系統噪聲。光學方案對于3D成像，必須從相機的所有像素獲取數據。這意味著：重新構建共聚焦圖像。為此，多狹縫圖像偏移一個像素，達到必要的次數，以填充相機。多狹縫每偏移一次，拍一張相機圖像，對那一刻照亮的像素應用共聚焦算法。SENSOFAR專*技術光學結構中沒有運動零件Sensofar系統中實施的共聚焦掃描技術是...