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Sensofar三維光學輪廓儀在半導體行業的應用 在半導體制造中，S neox通過共聚焦-干涉協同測量技術，實現了焊點高度、直徑與傾斜角的高精度同步檢測。
更新時間：2025-10-23
產品型號：S?neox
瀏覽量：84
Sensofar輪廓儀從定位到批量檢測的完整流程 作S neox需遵循標準化流程以確保檢測精度。首先清潔樣品臺并固定樣品，通過觸控屏啟動預覽功能框選檢測區域。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：67Sensofar共聚焦干涉輪廓儀穩定測量結構支撐 S neox系列分為基礎版、進階版與定制版三大型號，形成從通用檢測到行業專項的完整解決方案。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：70Sensofar共聚焦干涉輪廓儀基礎到定制的覆蓋 S neox系列分為基礎版、進階版與定制版三大型號，形成從通用檢測到行業專項的完整解決方案。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：66Sensofar白光干涉儀多技術融合精密檢測方案 S neox作為Sensofar推出的新一代3D共聚焦白光干涉光學輪廓儀，通過共聚焦、白光干涉與多焦面疊加技術的協同工作，構建了多維度精密檢測體系。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：76
從數據到洞察：Sensofar軟件分析與操作體驗 在表面形貌測量中，不同的樣品特性往往需要不同的測量技術。單一的測量方式有時難以應對多樣的樣品類型。Sensofar S lynx三維輪廓儀將共聚焦成像與白光干涉測量技術集成在一臺設備中，這種組合方式拓展了其應用范圍。
更新時間：2025-10-23產品型號：S lynx2瀏覽量：107