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Sensofar在半導體晶圓薄膜厚度測量中的應用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學技術（共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射）實現對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數據輸出四個維度展開說明。
更新時間：2025-10-23
產品型號：S?neox
瀏覽量：72
Sensofar光學輪廓儀在光學元件制造中的應用Sensofar光學輪廓儀智能化檢測與分析系統 Sensofar?S?neox 將共聚焦顯微、白光干涉和多焦面疊加三大技術融合在同一平臺，實現從超光滑到粗糙表面的全場景測量。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：62Sensofar光學輪廓儀智能化檢測與分析系統 SensoSCAN軟件作為S neox的核心配套軟件，采用模塊化界面設計，支持測量模式選擇、參數設置與實時成像。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：74Sensofar三維光學輪廓儀突破實驗室應用限制 S neox具備優異的環境適應性，可在多種復雜環境下穩定工作。設備采用工程塑料與金屬支撐結構，兼顧輕量化與抗沖擊性能，抗振動性能優異。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：69
Sensofar光學輪廓儀非接觸式微觀觀測新工具 Sensofar三維光學輪廓儀技術規格全面解析 Sensofar?S?neox 將共聚焦顯微、白光干涉和多焦面疊加三大技術融合在同一平臺，實現從超光滑到粗糙表面的全場景測量。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：71
Sensofar光學輪廓儀非接觸式微觀觀測新工具 Sensofar?S?neox 將共聚焦顯微、白光干涉和多焦面疊加三大技術融合在同一平臺，實現從超光滑到粗糙表面的全場景測量。
更新時間：2025-10-23產品型號：S?neox瀏覽量：68