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白光干涉儀S neox的非接觸測量優勢:Sensofar S neox以非接觸光學測量技術，無損表征柔軟、易損或高潔凈樣品的三維形貌，避免劃傷與形變，確保數據真實，適用于精密材料與生物醫學領域。
更新時間：2025-11-14
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瀏覽量：20
白光干涉儀S neox的微電子領域應用:Sensofar S neox為微電子制造提供非接觸式3D計量，應用于晶圓平整度、TSV通孔、封裝凸點及MEMS器件的高精度快速測量，助力工藝控制與良率提升。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：26白光干涉儀S neox的多功能平臺價值:Sensofar S neox集成共聚焦與干涉等多種光學技術于一體，以單一平臺應對多樣化的表面測量需求，顯著節省實驗室空間與成本，并提升設備投資回報率。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：25白光干涉儀S neox的臺階高度測量:Sensofar S neox 3D光學輪廓儀的白光干涉模式，以非接觸方式實現臺階高度測量，具備亞納米級垂直分辨率，可快速、直觀獲取微納尺度三維形貌數據，滿足精密計量需求。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：23白光干涉儀S neox的粗糙度分析應用:Sensofar S neox將表面粗糙度分析從一維的線分析推進到三維的面分析，提供了更豐富、更具統計意義的表面信息，其非接觸的特點也使其適用于柔軟、易劃傷表面的檢測，為表面形貌的量化評價提供了現代化的工具。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：27白光干涉儀S neox的校準與準確性：Sensofar S neox 3D光學輪廓儀通過系統化校準流程，確保XY尺寸、Z軸高度及干涉參考平等精確可溯，為科研與精密制造提供可靠、可復現的納米級測量數據。
更新時間：2025-11-14產品型號：瀏覽量：22