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ZEM20Pro澤攸電鏡：設計理念與用戶體驗? 將高分辨掃描電鏡的成像能力與用戶友好的操作體驗相結合，是澤攸ZEM20Pro的一個重要設計目標。它不僅關注硬件性能的提升，更在系統智能化、操作流程化和維護便捷性方面進行了考量，旨在讓用戶能更專注于科學發現本身，提升工作效率。

澤攸電鏡ZEM20Pro：應對前沿研究成像能力? 在納米材料研究、制造檢測和生命科學等領域，對樣品進行高分辨率的掃描電子顯微鏡觀察需求日益增長。澤攸科技的ZEM20Pro臺式掃描電子顯微鏡，將高分辨成像能力融入緊湊的桌面設計中，為用戶提供了一個無需依賴大型傳統電鏡的微觀成像解決方案。

澤攸：航材精密檢測臺階儀 在航空航天精密配件制造領域，配件材質多樣（如鈦合金、復合材料、陶瓷涂層）且結構復雜（如異形曲面、微小臺階），對檢測設備的多材質適配性與精度穩定性要求更高。澤攸全自動臺階儀 JS3000B 憑借接觸式 + 光學式雙測量模式、高剛性結構與耐用設計，成為航空航天精密配件檢測的實用工具，幫助企業完成配件臺階高度、涂層厚度等關鍵參數檢測，保障飛行安全相關部件的質量。

澤攸：光學鏡片質檢臺階儀 在光學鏡片生產企業的批量質檢環節，需要兼顧檢測效率與數據一致性，手動檢測難以滿足大規模生產需求。澤攸全自動臺階儀 JS2000B 憑借自動化操作、適配光學鏡片的測量設計與批量數據管理功能，成為光學鏡片質檢的實用工具，幫助企業完成鏡片臺階高度、鍍膜厚度等關鍵參數檢測，把控產品質量。

澤攸 ：高校實驗教學臺階儀 在高校材料、電子、機械等專業的基礎實驗教學中，需要兼顧操作安全性、原理直觀性與成本可控性，復雜的檢測設備難以適配教學場景。澤攸半自動臺階儀 JS100B 憑借簡易操作、清晰的原理呈現與耐用設計，成為高校實驗教學的實用工具，幫助學生掌握臺階高度測量基礎方法，理解接觸式測量原理。

澤攸：多材質樣品檢測臺階儀 在半導體元件研發、航空航天配件制造、新型材料實驗等場景中，樣品材質多樣（如金屬、陶瓷、薄膜、生物材料），對測量模式的適配性要求更高，單一測量原理的臺階儀難以滿足全場景需求。澤攸全自動臺階儀 JS3000B 憑借接觸式與光學式雙測量模式、適配多材質的設計，成為這類復雜場景的實用工具，幫助用戶完成不同材質樣品的臺階高度、厚度等檢測任務，減少設備更換頻率。