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澤攸電鏡微觀世界的便攜觀測(cè)站 在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)與納米技術(shù)快速發(fā)展的今天，科研人員對(duì)微觀形貌分析的需求愈發(fā)迫切。澤攸科技推出的ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡，憑借其緊湊設(shè)計(jì)與高性能表現(xiàn)，成為實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的理想觀測(cè)工具。

澤攸電鏡微觀世界的實(shí)用選擇 澤攸電鏡作為一款基礎(chǔ)型掃描電鏡，在材料表面觀察領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其核心電子光學(xué)系統(tǒng)采用高品質(zhì)磁透鏡，通過多層線圈纏繞技術(shù)，形成均勻的磁場(chǎng)分布，為電子束的聚焦提供穩(wěn)定條件。

澤攸電鏡多功能原位分析電鏡 澤攸 電鏡是一款集多種原位分析功能于一體的設(shè)備，能在電鏡內(nèi)模擬樣品的服役環(huán)境，實(shí)時(shí)觀察樣品在溫度、應(yīng)力、電場(chǎng)等外部條件作用下的微觀結(jié)構(gòu)變化。設(shè)備采用高穩(wěn)定性電子光學(xué)系統(tǒng)，確保在原位實(shí)驗(yàn)過程中仍能保持良好的成像質(zhì)量。

澤攸電鏡高分辨率成像的電鏡 澤攸電鏡以高分辨率成像為核心優(yōu)勢(shì)，采用場(chǎng)發(fā)射電子槍，電子束亮度高、束斑小，能捕捉到更細(xì)微的微觀結(jié)構(gòu)。電子槍真空度達(dá)到 1×10??Pa，減少了電子與氣體分子的碰撞，延長(zhǎng)了電子槍的使用壽命。

澤攸電鏡集成化分析的電鏡系統(tǒng) 在半導(dǎo)體行業(yè)，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè)，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學(xué)領(lǐng)域，能觀察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu)，分析相分布情況；在地質(zhì)研究中，可識(shí)別礦物顆粒的微觀形態(tài)，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果，為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。

澤攸電鏡兼顧效率與細(xì)節(jié)的電鏡 在半導(dǎo)體行業(yè)，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測(cè)，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學(xué)領(lǐng)域，能觀察復(fù)合材料的界面結(jié)構(gòu)，分析相分布情況；在地質(zhì)研究中，可識(shí)別礦物顆粒的微觀形態(tài)，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準(zhǔn)的成像效果，為各領(lǐng)域的研究與生產(chǎn)提供了有力支持。