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產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
更新時間：2025-04-22
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瀏覽量：414
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
更新時間：2025-04-22產品型號：瀏覽量：395
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更新時間：2025-04-21產品型號：瀏覽量：581