Sensofar S neox共聚焦白光干涉光學輪廓儀構建了完善的型號體系，從基礎通用到定制，從實驗室到生產線，均有適配型號。整個系列以技術融合為核心，不同型號在配置、功能、適配場景上各有側重，形成從常規檢測到精密分析的完整解決方案。每個型號均保持共聚焦、白光干涉雙技術融合的核心優勢，搭配 SensoSCAN 軟件系統，確?；A測量性能一致，同時通過硬件配置差異滿足多元需求，用戶可根據自身場景選擇適合的型號。
S neox 3 作為經濟型型號，聚焦常規表面測量需求，配備 20× 共聚焦物鏡，檢測范圍 5μm-3mm，橫向分辨率與縱向分辨率能滿足塑料零件粗糙度篩查、金屬表面劃痕檢測等基礎場景。機身尺寸 600×500×750mm，結構緊湊，適合中小型實驗室或企業的桌面布局。
硬件配置上，它搭載 500 萬像素 CMOS 相機，數據傳輸速率 180fps，單次掃描時間約 3 秒，能平衡檢測效率與成本。XY 平臺行程 125×75mm，承載重量適中，防護等級 IP54，可適應一般實驗室環境。軟件方面，支持基礎 ISO 參數計算與報告導出，內置 10 余種通用檢測模板。
S neox 3 的優勢在于性價比，維護成本較低，適合預算有限且以常規檢測為主的用戶，如小型制造企業的進料檢驗、高?；A科研等場景。
S neox 5 定位多功能型，在基礎款基礎上升級核心配置，標配 150× 高數值孔徑（NA 0.95）物鏡，橫向分辨率達 0.10μm，縱向分辨率進入 0.1nm 量級，支持多焦面疊加技術，可測量 86° 的陡峭斜面，適合精密表面分析。
硬件新增五軸旋轉臺，A 軸可 360° 無限旋轉，定位重復性 10 角秒；B 軸傾斜范圍 - 30° 至 110°，分辨率 0.5 角秒，能實現軸對稱樣品的全方測量。搭載 AI 路徑規劃模塊，檢測效率提升 30%，支持多區域連續掃描與自動對焦，適配半導體金線檢測、光學鏡片面型分析等場景。
軟件升級為完整版 SensoMAP，增加自動缺陷檢測、多尺度視場融合功能，內置 30 余種行業專用模板，支持與 SEM、AFM 等儀器的數據對接。S neox 5 適合對精度與功能有較高要求的用戶，如精密制造企業的過程質檢、科研機構的微觀結構研究。
S neox Pro 作為全套配置旗艦型號，集合了系列所有功能，配備 500W 高功率 LED 光源與雙通道信號融合模塊，能應對復雜樣品的多維度測量，如透明薄膜雙面檢測、多層材料形貌分析等。
硬件支持最大 1000 萬像素傳感器升級，圖像獲取時間縮短至 1.5 秒，配合高速 XY 平臺，可滿足工業 4.0 生產線的高速檢測需求。支持多種擴展模塊，如高溫原位測量艙（最高 800℃）、無菌操作艙等，適配航空發動機葉片檢測、醫療植入體分析等特殊場景。
軟件搭載 AI 分析插件與云端協同功能，可實現表面紋理自動分類與多設備數據共享，符合 SEMI、ISO 13485 等多項行業標準，檢測報告可直接用于國際認證。S neox Pro 適合大型企業的生產線、國家ji科研實驗室等對性能與擴展性有ji致需求的場景。
專為大尺寸樣品設計的 S neox Grand Format，XY 移動范圍達 600×600mm，可承載最大 300×300mm、高度 350mm 的樣品，經認證適用于半導體、顯示器、印刷電路板行業的大型面板檢測。
采用 0.65× 邁克爾遜物鏡與高性能 XY 平臺組合，能快速測量大尺寸樣品的平面度，兼顧橫向與縱向分辨率。支持自動化生產線集成，配合 “樣品陣列" 功能，可完成多片面板的批量檢測，軟件內置面板檢測專用算法，自動計算平整度、劃痕數量等參數。
不同型號的 S neox 共聚焦白光干涉光學輪廓儀，通過精準的定位與豐富的配置，為各行業用戶提供了適配的測量解決方案。
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