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布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的測量工具，適用于工業檢測和實驗室研究。該產品采用非接觸式光學干涉技術，能夠對多種材料表面進行三維形貌測量，包括金屬、陶瓷、聚合物和薄膜等。
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布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具
布魯克三維光學輪廓儀ContourX-500是一款用于材料表面形貌分析的測量工具，適用于工業檢測和實驗室研究。該產品采用非接觸式光學干涉技術，能夠對多種材料表面進行三維形貌測量，包括金屬、陶瓷、聚合物和薄膜等。
ContourX-500的核心部件包括光源模塊、干涉鏡頭、樣品臺和控制系統。光源采用LED白光，配合多波段濾波器，可適應不同反射特性的樣品。干涉鏡頭設計緊湊，支持自動切換物鏡，實現不同放大倍率的測量。樣品臺由鋁合金制成，表面經過防腐蝕處理，承重能力為5公斤，移動范圍為100mm x 100mm。控制系統集成運動模塊和傳感器，確保測量過程的穩定性。
在性能方面，ContourX-500的垂直測量范圍可達5mm，橫向分辨率取決于物鏡選擇，最高可達0.35μm。測量速度因掃描模式和區域大小而異，通常完成一次測量需幾分鐘。重復性測試顯示，在標準環境下，測量結果的一致性較好。
參數表：
型號：ContourX-500
測量技術：白光干涉
垂直分辨率：0.1nm
橫向分辨率：0.35μm至5μm（依物鏡而定）
最大掃描范圍：5mm x 5mm x 5mm
樣品臺尺寸：200mm x 200mm
重量：35kg
電源要求：100-240V AC, 50/60Hz
該產品主要用于表面粗糙度分析、薄膜厚度測量、微結構尺寸檢測和磨損評估。在半導體、光學制造、汽車零部件和材料科研等領域有較多應用。
使用前需確認設備水平放置，連接電源和計算機。開機后啟動控制軟件，選擇測量模式并設置參數。將樣品固定在臺上，調整焦距和光路，開始掃描。測量完成后，軟件可生成三維圖像和數據分析報告。日常維護包括清潔光學部件和檢查機械結構。
ContourX-500的設計注重實用性和適應性，適合多種工業環境。
布魯克輪廓儀：材料表面形貌分析工具