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PRODUCTS CNTER
產品簡介
西班牙Sensofar白光干涉儀S neox產品介紹Sensofar 的四合一測量技術堪稱 S neox 的一大核心亮點。在其傳感器頭中，巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術。只需輕松點擊一次，系統便能依據當前測量任務的具體需求，自動智能地切換到最為適配的優良技術。
產品分類
當集成電路的線寬逼近物理極限、當仿生材料需要解析微米級孔隙結構、當精密光學元件表面要求原子級平整度——這些領域的突破，都始于對物質表面認知。Sensofar S neox三維共焦白光干涉光學輪廓儀，正以性的測量哲學，成為打開微觀世界大門的。
跨越維度的測量革命
傳統測量設備受限于單一技術原理，如同盲人摸象：
? 接觸式探針會損傷軟性材料
? 激光共焦難以應對高反射表面
? 普通白光干涉儀受困于振動干擾
S neox的劃時代突破在于構建了四維協同測量矩陣：
plaintext
| 技術模式 | 適用場景 | 突破性能力 |
|----------------|-------------------------|-------------------------|
| 動態共焦掃描 | 陡坡/多孔材料 (如骨植入物) | 86°傾角穩定成像 |
| 白光干涉場重建 | 亞納米級超光滑表面 | 抗振動技術 |
| 相移干涉解析 | 薄膜厚度測量 | 0.1nm縱向分辨率 |
| Ai智能景深融合 | 毫米級粗糙度樣品 | 單次掃描深度達8mm |
這種技術聚合不是簡單疊加，而是通過自適應光學引擎，根據表面特性自動優化光源波長、入射角度及算法內核，實現測量模式的智能切換。
重新定義精密測量的邊界
納米級動態追蹤能力
搭載量子點增強型CMOS傳感器，在180幀/秒高速采集下仍保持0.12μm橫向分辨率。對半導體晶圓缺陷的捕捉精度，相當于在足球場上識別一粒病毒。
振動免疫黑科技
采用實時環境補償算法（REC） ，在普通實驗室環境下（振動幅度＞100nm）仍可穩定輸出數據，攻克了傳統干涉儀必須依賴光學平臺的行業痛點。
多物理場同步解析
三波長干涉技術，單次掃描即可同步獲取：
? 表面三維形貌（精度1nm）
? 膜厚分布（0.1nm分辨率）
? 材料折射率分布
? 真色彩光學特征
破解工業與科研的測量困局
案例1：芯片封裝失效分析
某存儲芯片出現分層缺陷，傳統SEM無法檢測亞表面損傷。S neox通過相移干涉模式，在非破壞條件下清晰呈現20μm焊球下方的微裂紋，定位精度達0.5μm。
案例2：人工角膜表面優化
某生物材料企業利用共焦動態掃描，獲得水凝膠材料在濕潤狀態下的真實三維形貌，發現干燥測量導致的3.2μm形變誤差，推動工藝革新。
案例3：航空發動機葉片檢測
對噴砂處理的鈦合金葉片，Ai景深融合模式僅用42秒完成15×15mm區域掃描，精準量化Ra=8.3μm的粗糙度參數，效率提升20倍。
智能測量生態體系
SensoAI云智庫
集成200+種材料數據庫，用戶上傳樣品圖像即可智能推薦：
? 測量模式組合
? 鏡頭參數配置方案
? 特征分析算法包
數字孿生校準系統
每個測量結果自動關聯：
? 環境溫濕度記錄
? 設備校準溯源鏈
? 操作者電子簽名
確保數據滿足ISO 17025實驗室認證要求
跨尺度多模塊聯動
可選配：
? 12英寸自動晶圓臺
? 高溫原位測量艙（最高800℃）
? 活細胞培養觀測系統
形成從納米到米級的完整測量閉環
在哈佛大學材料實驗室，S neox正解析著量子點薄膜的原子級堆疊；在特斯拉超級工廠，它每分鐘完成30個電池極片的涂層厚度檢測；在眼科研究所，它揭示著人工視網膜表面的微流體通道——這臺不足辦公桌大小的設備，已成為微觀世界的通用語言。
Sensofar S neox的價值不在測量本身，而在于將不可見轉化為可量化，將經驗判斷升維至數據決策。 當制造業步入納米精度時代，擁有全域感知能力的測量系統，就是掌控質量話語權的核心密鑰。