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SEM熱電芯片臺(tái)可搭配電學(xué)測(cè)試，兼容型號(hào)掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場(chǎng)耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng)，集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。

PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺(tái)直接貼緊樣品，保證了溫度的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。

掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測(cè)量系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺(tái)上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對(duì)實(shí)驗(yàn)樣品原位加熱。

PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。