澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡：賦能國產*端制造的“微觀之眼

在人工智能、半導體、新材料等前沿領域高速發展的今天，微觀檢測技術的精度直接決定了*端產業的突破速度。澤攸科技憑借自主研發的ZEM系列臺式掃描電鏡，以納米級成像能力與工業級實用性的雙重優勢，正成為國產*端儀器領域的標*產品，為AI芯片、生物醫藥、新能源等產業提供關鍵技術支持。  

一、技術突破：從實驗室到生產線的跨越

傳統掃描電鏡因體積龐大、操作復雜、維護成本高昂等問題，長期受限于實驗室場景。澤攸科技通過電子光學系統自主創新與模塊化設計，推出*球*一款可規模化部署的臺式掃描電鏡系列，實現三大革命性升級：  

1. 空間效率躍遷

ZEM系列體積僅為傳統設備的20%，支持在普通實驗室、移動檢測車甚至芯片封裝產線直接部署。其專業防震設計與超快抽真空技術，*底打破百級潔凈車間限制，使微觀檢測融入工業生產全流程。  

2. 多維分析能力

搭載背散射電子（BSE）、二次電子（SE）探測器及能譜儀（EDS），可同步完成：    • 晶體管三維成像：精準定位FinFET/GAA結構中的柵極氧化層缺陷（分辨率達2.5nm）；   • 金屬互連層缺陷檢測：識別銅線路孔洞與電遷移痕跡，預防AI芯片斷路風險；    • 重金屬污染溯源：快速鎖定鐵、鎳等污染顆粒，優化晶圓制造工藝。  

3. 動態場景適配  

可選配**原位加熱臺**實時觀測芯片熱膨脹形變，或通過**視頻模式**捕捉材料微觀動態演變，為半導體可靠性驗證與新材料研發提供關鍵數據支撐。  

二、產品矩陣：覆蓋全產業鏈需求

澤攸科技采用階梯式技術布局，推出五大核心機型，滿足科研與工業場景的差異化需求：  

這一產品矩陣已服務超500家機構，包括中科院、華為海思等頭部單位，推動國產芯片出廠缺陷率下降超30%。  

三、應用場景：驅動產業升級的創新引擎 

ZEM系列通過“檢測-反饋-工藝優化"閉環，在多個領域創造顯著價值：  

1. AI芯片制造 

在深圳“AI公務員"系統中，ZEM系列解決了傳統光學顯微鏡的檢測盲區，將跨部門任務分派效率提升80%，并保障政務AI系統24小時無*障運行。

2. 新能源材料研發 

對磷酸鐵鋰、碳納米管等材料的30000X級成像分析，助力電池能量密度提升15%，相關成果發表于《Advanced Engineering Materials》等頂級期刊。 

3. 法醫與生物醫學

ZEM18通過硅藻種類分析、花粉痕跡檢測等技術，協助警方破獲多起疑難刑事案件，司法鑒定準確率達99.7%。  

4. 航空航天材料

在金屬增材制造（FDM）領域，ZEM系列實時觀測燒結過程的微觀結構演變，使薄壁金屬零件的能量吸收能力提升40%，相關工藝已應用于衛星載荷支架制造。

四、國產化突圍：從追趕到*跑

作為國內少數掌握全鏈條掃描電鏡技術的企業，澤攸科技通過三大戰略實現進口替代： 

1. 人才儲備：組建20余人院士專家團隊，研發人員占比超60%；  2. 產學研融合：與松山湖材料實驗室等十余家機構聯合攻關，累計獲得專*200余項； 3. 生態構建：推出電子束光刻機、探針臺等配套設備，形成納米技術全產業鏈解決方案。